F20薄膜厚度測(cè)量?jī)x

測(cè)量厚度從1nm到10mm的先進(jìn)膜厚測(cè)量系統(tǒng)

不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常熟，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，F(xiàn)20都能滿(mǎn)足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于某模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用：

• 測(cè)量厚度、折射率、反射率和穿透率：

-     單層膜或多層膜疊加

-     單一膜層

-     液態(tài)膜或空氣層

• 不同條件下的測(cè)量，包括：

-     在平面或彎曲表面

-     光斑小可達(dá)20微米

-     桌面式、XY坐標(biāo)自動(dòng)化膜厚測(cè)量，或在線(xiàn)配置

所有的這些功能都伴隨著直觀(guān)的軟件界面以及我們即時(shí)的電話(huà)和互聯(lián)網(wǎng)支持（24小時(shí)/每周5工作日）。這就是Filmetrics的優(yōu)勢(shì)！歡迎您試一試！

膜層范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。

這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：

SiNX TiO2 DLC 

光刻膠SU-8 聚合物 有機(jī)電致發(fā)光器AIQ材料 

非晶硅 ITO 硒化銅銦鎵CIGS 

厚度測(cè)量范圍

測(cè)量原理為何？

軟件功能以使用者為導(dǎo)向

其他的選用配件

選擇Filmetrics的優(yōu)勢(shì)

• 桌面式薄膜厚度測(cè)量

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀(guān)的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件

附 加 特 性

• 嵌入式在線(xiàn)診斷方式

• 免費(fèi)離線(xiàn)分析軟件

• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶(hù)有效地存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測(cè)試結(jié)果

應(yīng)用

半導(dǎo)體膜層                                  液晶顯示器

• 光刻膠                                     • OLED

• 加工膜層                                   • 玻璃厚度

• 介電層                                     • ITO和TCOs

光學(xué)鍍層                                      生物醫(yī)學(xué)

• 硬涂層                                      • 聚對(duì)二甲苯

• 抗反射層                                    • 醫(yī)療器械

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